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產品說明： Hitachis日立*特的200 kV像差校正TEM / STEM：成像分辨率和分析性能的完*結合 在單個物鏡配置中，STEM可實現0.078 nm的空間分辨率，并具有較高的樣品傾斜能力和大立體角EDX檢測器...
產品詳情
Hitachi's日立*特的200 kV像差校正TEM / STEM：成像分辨率和分析性能的完*結合
產品特點
高輝度冷場FE電子槍×高穩定性×日立制球面像差校正器
Si（211）單晶體HAADF-STEM圖像（左）和圖像強度曲線分布（右下）、FFT功率譜（右上）
GaAs（110）的原子柱EDX映射
| 項目 | 內容 | |
|---|---|---|
| 電子源 | W（310）冷陰極場發射型 | |
| 加速電壓 | 200 kV、60 kV*1 | |
| 圖像分辨率 | STEM | 0.078 nm（ADF-STEM圖像） |
| TEM | 0.102 nm（晶格像） | |
| 倍率 | STEM | ×20～×8,000,000 |
| TEM | ×100～×1,500,000 | |
| 樣品微動 | 樣品臺 | 偏心測角儀（Eucentric Goniometer）5軸樣品臺 |
| 樣品尺寸 | 3 mm Φ | |
| 移動范圍 | X, Y＝±1.0 mm，Z=±0.4 mm | |
| 樣品傾斜 | α＝±25°、β＝±35°（日立2軸傾斜樣品桿*1） | |
| 像差校正器 | 配有日立照射系統球面像差校正器（標配） | |
| 圖像顯示 | PC | Windows® 7 *2 |
| 顯示器 | 27英寸寬屏液晶顯示器（機體控制顯示器、第er顯示器*1） | |
| 攝像頭 |
標配伸縮式攝像頭 屏幕攝像頭*1（用于熒光板觀察） |
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