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      原子力顯微鏡

      環境型原子力顯微鏡 AFM5300E

      產品說明: 1. 環境控制功能(大氣,真空,液體,溫控等) AFM5300E能夠實現高真空的測試環境,減小樣品表面吸附水對測試的影響,實現準確的物理特性測量。 真空環境下可以實現更...

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      產品詳情

      1. 環境控制功能(大氣,真空,液體,溫控等) AFM5300E能夠實現高真空的測試環境,減小樣品表面吸附水對測試的影響,實現準確的物理特性測量。 真空環境下可以實現更大范圍的溫度控制。(*利3857581號、*利3926638號) ●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特s氣氛(流量控制) ●溫度控制 加熱?冷卻(-120~300℃) 高溫(室溫~800℃)

      1. 環境控制功能(大氣,真空,液體,溫控等)
      AFM5300E能夠實現高真空的測試環境,減小樣品表面吸附水對測試的影響,實現準確的物理特性測量。 真空環境下可以實現更大范圍的溫度控制。(*利3857581號、*利3926638號)
      ●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特s氣氛(流量控制)
      ●溫度控制 加熱?冷卻(-120~300℃) 高溫(室溫~800℃)
      ●濕度控制(0~80%)


      2. 簡便操作(綜合型Holder Flange)
      通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』,樣品和掃描器更換更為方便的同時,免去了以往環境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環節。


      3. 高性能
      采用了『Swing Cancel功能』,減輕了樣品的浮動,降低了漂移。提高了納米分析性能,提升了可信度。


      4. 通過減輕表面吸附水的影響,提高了電氣性能的檢測精度
      真空環境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響,因而實現高分辨高靈敏的電學性能分析。


      技術參數
      分辨率 原子相
      樣品尺寸 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴展至20 mm)
      樣品移動范圍 X-Y stage 5 mm
      掃描范圍 標準: 20 µm□/1.5 µmH
      • 150 µm□/5 µmH
      • 15 µm□/1.5 µmH(閉環差控制)
      定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡(×200倍)
      • 光學顯微鏡(×1000倍)
      • 變焦顯微鏡(×700倍)
      • 金相顯微鏡(裝有微分干渉)(×2000倍)
      檢測功能
      • DFM(輕敲模式)
      • FFM(摩擦)
      • SIS模式
      • VE-AFM/DFM(粘彈性)
      • CURRENT(電流)
      • SNDM(非線性介電常數)
      • 液體中AFM/DFM
      • NanoIndentation(硬度)
      • <li "="" style="margin: 0px 0px 0.1em; padding: 0px 0px 0px 1em; line-height: 18.592px; list-style-type: none; background: url(&quot;;&quot;);">Nano-TA(微區加熱)
      選配件 高溫加熱樣品臺
      加熱冷卻兼用樣品臺
      冷卻真空
      溫度控制

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