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原子力顯微鏡

通用型原子力顯微鏡 AFM5100N

產品說明： AFM5100N除了激光檢測方式之外，xin的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。 1. 簡便的懸臂安裝通常的懸臂是非常渺小而且很難操作...

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AFM5100N除了激光檢測方式之外，xin的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。 1. 簡便的懸臂安裝通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。 2. 不用調整激光光斑的自檢測方式激光檢測方式的探針需要調節激光光斑的位置，操作復雜，而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無

AFM5100N除了激光檢測方式之外，xin的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。
1. 簡便的懸臂安裝
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。

2. 不用調整激光光斑的自檢測方式
激光檢測方式的探針需要調節激光光斑的位置，操作復雜，而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無需調節激光光斑。

3. 懸臂定位
懸臂的機械結構，能夠以俯視方式直接觀察懸臂的位置，從而輕松調整樣品的測量的位置。除此之外，更加尖銳的探針提高了分辨率。

4. 方便的操作導航系統

通過流程圖形式的導航系統，任何人都可以輕松地進行高分辨表面測量。另外，通過設定樣品的軟硬度和凹凸系數等參數，能夠簡單確定測量條件。

5. 緊湊的主機

主機上包含減震臺、隔音罩、光學顯微鏡等附件，安裝緊湊，體積小巧。

6. 擴展功能

通過激光檢測方式，能夠擴展各種各樣的選配功能。另外，只要插拔一根電纜就能夠切換成激光檢測方式。

技術參數

檢測方式	激光檢測方式/自檢測方式
樣品尺寸	35 mmφ、厚度10 mm（配件厚度擴展至20 mm）
掃描范圍	100 µm/15 µmH 110 µm/6 µmH（閉環差控制）
定位顯微鏡	變焦顯微鏡金相顯微鏡（可以選配）
減震方式	落地式減震臺（可以選配）
操作畫面	搭載流程圖的操作導航系統
檢測功能	CURRENT、SSRM、SNDM、PRM、KFM <li "="" style="margin: 0px 0px 0.1em; padding: 0px 0px 0px 1em; line-height: 18.592px; list-style-type: none; background: url(";");">PM（相位模式）（可以選配）
擴展功能	AFM、STM、SIS、FFM、LM-FFM、VE-AFM/DFM、Adhision、CURRENT、KFM、PRM、SNDM、SSRM、EFM、MFM

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